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防静电地板损伤的两种失效形式

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防静电地板损伤的两种失效形式

发布日期:2018-08-11 作者: 点击:

静电损伤的两种失效形式

1. 硬损伤:又称“突发性完全失效”、“一次性损坏”,约占10%

表现为器件电参数突然劣化,失去原有功能。主要原因是静电放电造成过压使得介质被击穿,或过流使得内部电路金属导线熔断、硅片局部融化等。

硬损伤可通过常规的性能测试手段及时发现,相对软失效而言危害要小得多。

2. 软损伤:又称“潜在性缓慢失效”、“多次损伤累积后失效”,约占90%

受到软损伤的器件,虽然当时各类电参数仍合格,然而其使用寿命却大大缩短了。含有这些器件的产品或系统,可靠性变差,可能会在后续过程中(直至最终用户)继续遭受ESD软损伤或其它过应力损伤积累而过早地失效。

由于软损伤是潜在的,运用目前的技术还很难证明或检测出来,特别是器件被装入整机产品之后,因此具有更大的危害性。这些产品流入市场后的维护成本和造成的其它损失,将比在生产中发生的直接损失要放大几十甚至上百倍!


蓄积在导体上的电荷,会在一次放电中将能量完全释放,是常见静电危害产生的原因。


静电放电可概分为火花放电、电晕放电、刷状放电、射状放电等形式。


不同放电形式的发生,与放电的电极形状、材质距离、阻抗、数量有密切的关系,同时亦会产生不同的危害。



电子行业如微电子、光电子的制造和使用厂商因为静电造成的损失和危害是相当严重的。据美国1988年的报道,它们的电子行业中,由于ESD的影响,每年的损失达亿美元之多;据日本统计,它们不合格的电子器件中有45%是由于静电而引起的;我国每年因静电危害造成的损失也至少有几千万。下左图是美国Ti公司对某一年对客户失效器件原因进行分析统计的结果,从中可以看到由EOS/ESD引起的失效占总数的47%下;下图是美国半导体可靠性新闻对1993年从制造商、测试方和使用现场得到的3400例失效案例进行的统计,从中可以看到,EOS/ESD造成的失效也达到20%。 


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