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防静电地板损害的两种失效方式

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防静电地板损害的两种失效方式

发布日期:2019-08-29 作者: 点击:

静电损害的两种失效方式

1.硬损害:又称“突发性彻底失效”、“一次性损坏”,约占10%

表现为器材电参数突然劣化,失去原有功用。首要原因是静电放电形成过压使得介质被击穿,或过流使得内部电路金属导线熔断、硅片局部消融等。

硬损害可经过常规的功能测试手段及时发现,相对软失效而言损害要小得多。

2.软损害:又称“潜在性缓慢失效”、“屡次损害累积后失效”,约占90%

遭到软损害的器材,尽管当时各类电参数仍合格,然而其运用寿命却大大缩短了。含有这些器材的产品或系统,可靠性变差,或许会在后续过程中(直至终用户)继续遭受ESD软损害或其它过应力损害积累而过早地失效。

由于软损害是潜在的,运用现在的技能还很难证明或检测出来,特别是器材被装入整机产品之后,因而具有更大的损害性。这些产品流入商场后的保护本钱和形成的其它丢失,将比在出产中发生的直接丢失要放大几十乃至上百倍!

蓄积在导体上的电荷,会在一次放电中将能量彻底释放,是常见静电损害发生的原因。

静电放电可概分为火花放电、电晕放电、刷状放电、射状放电等方式。

不同放电方式的发生,与放电的电极形状、原料间隔、阻抗、数量有密切的联系,一起亦会发生不同的损害。

电子职业如微电子、光电子的制作和运用厂商由于静电形成的丢失和损害是相当严重的。据美国1988年的报导,它们的电子职业中,由于ESD的影响,每年的丢失达亿美元之多;据日本计算,它们不合格的电子器材中有45%是由于静电而引起的;我国每年因静电损害形成的丢失也至少有几千万。下左图是美国Ti公司对某一年对客户失效器材原因进行剖析计算的成果,从中可以看到由EOS/ESD引起的失效占总数的47%下;下图是美国半导体可靠性新闻对1993年从制作商、测试方和运用现场得到的3400例失效案例进行的计算,从中可以看到,EOS/ESD形成的失效也到达20%。


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